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inTEST 高低温冲击热流仪启用传感器数据的数字传输
对一些用户来说, 在芯片测试中可能需要根据测试的特定配置和设置, 在传感器和热流仪之间交换数字信息而不是模拟信息. 上海伯东美国 inTEST ThermoStream “E” 系列高低温冲击热流仪已提供热传感数据的数字传输. 通过将 USB 电缆插入热流仪的后部面板, 将该电缆与用户的远程设备连接, 可实现数字数据的传输.
要启用数字数据传输, 进入设置界面, 按被测件传感器按钮进入被测件选择弹出窗口.
选择 Digital for DUT sensor type. 选择 OK 即可
上海伯东美国 inTEST “E” 系列环保型高低温冲击热流仪低能耗, 低噪音, 低散热的功能特点满足实验室研发, 半导体行业要求, 广泛应用于各类半导体芯片, PCB 板, 电子模块的高低温冲击测试. 上海伯东是美国 inTEST 高低温冲击热流仪中国总代理.
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型号 |
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图片 |
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温度范围 °C |
-80 至 +225 |
-80 至 +225 |
-85 至 +225 |
-90 至 +300 |
-100 至 +225 |
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最大气体流量 scfm |
18 |
18 |
18 |
18 |
12 |
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变温速率 |
-55 至 +125°C 约 10 s; +125 至 -55°C 约 10 s |
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