普发氦质谱检漏仪

微控制器 MCU 芯片高低温测试
上海伯东客户某具有 20年集成电路芯片设计生产的半导体公司, 采购 inTEST ATS-545-M 高低温测试机用于工业级通用微控制器 MCU 的高低温测试, 微控制器 MCU 芯片广泛应用于手机, 打印机, 工业控制, 医疗设备, 汽车电子以及智慧家庭等领域

微控制器 MCU 芯片需要进行温度测试
通电测试时, 单一芯片需要在模拟环境下, 也就是不同的温度下, 测试不同的参数, 验证是否满足设计的功能性, 比如通过高低温测试机模拟温度 80℃, 监测运行多个参数.
芯片进行高低温测试时, 除了连接高低温测试机外, 同时连接一些线缆接到专门的信号检测仪器上, 查看在特定温度下 -40℃ 至 160℃ 芯片的功能, 比如运行频率,功耗等. inTEST 高低温测试机的主要作用就是快速提供需要的模拟环境温度.

针对客户提出的测试要求, 上海伯东提供微控制器 MCU 芯片高低温测试解决方案

推荐选用美国 intest Thermostream 热流仪 ATS -545 可满足客户的测试标准条件. 1. ATS-545 可提供 -75 to +225°C (50Hz) 的测试温度 能够提供有效的均匀的吹扫气流垂直的吹到客户所需要的元器件的表面, 4 to 18scfm 风速供客户根据不同要求提供选择 2. 提供标准配件, 接受客户定制, 满足不同测试的元器件所需要的适当尺寸 3. 在温度点之间的跳跃, 更快的速度实现切换, 变温速率 -55至 +125°C <10 s, 温度精度 ±0.1℃, 可以做 12组不同形式的循环温度设定. 4. 并且以上操作不影响其他非测试元器件. 保证客户的单向分析

鉴于客户信息保密, 若您需要进一步的了解微控制器 MCU 芯片高低温测试应用, 请参考以下联络方式：
上海伯东: 叶女士                             台湾伯东: 王女士
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