inTEST 闪存 Flash/EMMC 高低温测试
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inTEST  闪存 Flash/EMMC 高低温测试

上海伯东 inTEST - Temptronic 高低温循环测试机闪存温度测试应用
闪存(Flash Memory),是非挥发性内存的一种,不需电力来维持数据的储存,可分为 NOR Flash 以及 NAND Flash 两种,前者用于储存程序代码,后者用于储存数据。闪存应用范围涵盖汽车电子、因特网、存储器、DSL 电缆调制解调器、数字电视、照相手机、蓝芽、 GPS、工业电子…等等。
inTEST 闪存温度测试应用
闪存温度测试原因
为确保闪存可在极端温度环境(例如: 油气探勘、重工业以及航空领域)可正常实现稳健的闪存读/写操作功能,因此在出厂前需要进行温度测试,inTEST - Temptronic ThermoStream 超高速高低温循环测试机凭借可测试温度 -100 ℃ 至 +300 ℃,每秒可快速升温或降温 18°C,温度精度 +-1.0℃等优势广泛应用于闪存制造行业。上海伯东作为 inTEST 中国地区总代理,全权负责其新品销售和售后维修服务
闪存温度测试方法:
通过与爱德万 (Advantest ) 内存 IC 测试系统搭配之下,客户可直接在极端温度下测试闪存的运作特性。根据客户实际要求,上海伯东推荐选用 inTEST ATS-545-M 高低温循环测试机,并提供两种温度操作模式: Air mode 及 DUT mode

闪存多采用 DUT mode 即 Device under test t模式来进行高低温循环测式,将闪存与 inTEST ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互连接,如此即可精确掌控受测物达到机台所设定之温度。闪存高低温测试方法同样适合内嵌式记忆体eMMC 温度测试。inTEST-Temptronic thermostream 高低温测试机可与爱德万 advantest,泰瑞达 teradyne,惠瑞捷 verigy 工程机联用,进行芯片高低温循环测试。更详细的高低温测试操作方法欢迎致电 021-5046-3511
inTEST 闪存温度测试方法
inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 创立于 1970 年,在 2000 年被 inTEST 收购,成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年,在 2012 年被 inTEST 收购,使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机,将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理,全权负责  inTEST 新品销售和售后维修服务

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