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inTEST ATS-535 双界面 IC 卡芯片高低温冲击测试
上海伯东代理美国 inTEST 集成空压机热流仪 ATS-535 获得双界面 IC卡芯片高低温冲击测试订单, 满足客户身份证用 NFC 芯片研发生产要求, 双界面 IC卡芯片广泛应用于金融 IC卡, 社保卡, 交通, ETC, 居民健康卡等应用场景.

双界面 IC 卡芯片高低温冲击测试解决方案
测试温度范围: -55℃ 至 150℃
因场地受限, 上海伯东推荐使用全球唯一集成空压机的美国 inTEST 热流仪 ATS-535

inTEST ATS-535 热流仪提供 Air Mode 和 DUT Mode 两种测试方式. 在实际测试中, 如果是单颗待测器件, 则将热电偶探头放置于器件周边, 越靠近器件越好. 此时, 热流仪输出的气体温度将使此热电偶处的温度达到设定值, 可搭配各类测试机台在电共同进行芯片测试.

inTEST ATS-535 集成空压机 温度范围:  -60至+ 225°C 变温速率:  -40至+ 125°C <12秒                +125至-40°C <40秒 输出气流量: 5scfm（2.4l / s）固定流量 温度精度: ±1℃ 通过美国 NIST 校准 温度显示分辨率: ±0.1℃ 温度传感器: T或K型热电偶 整机噪音 : < 70 dBA

上海伯东美国 inTEST ThermoStream ATS-535 是内部集成空压机的高低温冲击热流仪, 整机噪音 < 70 dBA, 不需要额外安装空压机即可完成各类芯片的高低温冲击试验. 特别适用于对环境噪音有严格要求的写字楼园区或研发环境, 除了机动性方便移动外, 更可省去您重新评估空压系统及配管的时间及人力成本, 解决了因为环境受限无法提供压缩气体的芯片高低温测试难题.

随着手机集成度的提高, 身份认证, 金融支付, 设备鉴权等更多应用都将集成在安全芯片中, 伯东公司美国 inTEST 高低温冲击热流仪, 为各类 IC 芯片的温度测试, 提供适合的解决方案, 助力客户研发生产兼具安全性高, 数据传输稳定, 存储容量大等特点的高质量芯片产品. 伯东公司是美国 inTEST 热流仪中国总代理.

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