上海 inTEST 热流仪时钟芯片高低温冲击测试应用
inTEST 热流仪时钟芯片高低温冲击测试应用
某研发生产高性能时钟芯片企业, 通过上海伯东推荐, 选用美国 inTEST ATS-545-M 热流仪与其测试设备搭配, 为分析时钟芯片的各项特性, 提供快速可靠的温度环境. 助力企业填补了国内时钟领域的技术空白, 打破国外技术壁垒, 实现 5G 通讯时钟关键器件的国产化.
时钟芯片需要高低温冲击测试
时钟芯片, 也叫时钟电路, 是可以产生像时钟一样准确运动的振荡电路. 组成时钟电路的部件一般包括晶震控制芯片, 晶体振荡器和电容组成. 时钟芯片计时精度误差源于晶体振荡电路的频率误差, 而晶体振荡频率都会受到环境温度影响, 比如时钟芯片在温度骤降情况下, 晶体的频率会有一个很大的变化, 所以需要对不同温度下时钟芯片的计时误差进行准确测试. 如果设计过程中不验证其不同温度下的各项性能, 在极端温度范围内计时精度误差会很大, 影响到时钟在使用中的精准度.
上海伯东美国 inTEST 热流仪时钟芯片高低温冲击测试方法
客户要求温度范围 -40 至 90℃, 此前通过传统温箱进行温度测试, 在高温及低温测试中, 单次通常需要30分钟左右, 且无法单独对所需芯片进行针对性的测试, 影响测试效率, 通过各种测试方案对比, 最终选用上海伯东美国 inTEST 热流仪. inTEST 热流仪可快速模拟需要的测试环境, 与其他高低温设备对比, 在时效及测试方式等方面更有优势.
热流仪型号: inTEST ATS-545-M
测试对象: 时钟芯片
测试温度范围: 正常大气压下, 工作温度 -40℃ 至 90℃
1. 启动 ATS-545-M, 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理, 然后空气经由外部管路到达设备内部进行升温或降温
2. 根据测试要求, 设置 ThermoStream ATS-545-M 为 Air 或 DUT Mode 模式, 环境可靠性测试中, 时钟芯片通常要求的测试温度范围为, 正常大气压下, 工作温度 -40℃ 至 90℃.
3. 在测试中, 设置好需要的 Hot, Ambient 及 Cold 温度后, 点击 Head 按键, 降低玻璃罩高度, 使测试罩下降并完全罩住测试区域, 此时开始进行相应温度段的测试.
4. ATS-545-M 显示屏可实时监测当前循环冲击气流温度, 而且自带过热温度保护系统, 出厂设置温度 +230°C, 操作员可根据实际需要设置高低温限制点, 当温度达到设置温度时, 测试机将自动停机.
inTEST ThermoStream 系列热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度：±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. 提供适用于射频, 微波, 电子和高功率设备的温度测试热流仪, 满足特性和故障分析的需求. 上海伯东作为 inTEST 中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.
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