inTEST 热流仪触摸屏控制芯片高低温冲击测试
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inTEST 热流仪触摸屏控制芯片高低温冲击测试

inTEST 热流仪触摸屏控制芯片高低温冲击测试
触摸屏控制芯片又称触摸屏芯片, 触控芯片, 属于半导体芯片一种, 广泛应用于如消费类电子, 家用电器, 车载触摸屏, 移动终端, 智能电网, 物联网等多个领域. 触控芯片的关键性能指标, 除响应速度, 抗电磁干扰, 防水等要求外, 芯片工作温度也要求非常高.

上海伯东美国 inTEST 热流仪提供触摸屏控制芯片高低温测试解决方案
某触控芯片企业, 其产品已在全球十多亿台智能设备上运行, 广泛应用于手机, 平板电脑, 笔记本电脑, 智能家居, 汽车等产品. 一直采用上海伯东美国 inTEST ATS-710E-M 热流仪与其测试机搭配, 为分析触摸屏控制芯片, 触摸板控制芯片, MCU 触摸按键等产品的特性提供快速精准的外部温度环境, 实现测试芯片性能的要求.

inTEST 热流仪满足触控芯片的三项测试标准:
一. 基本性能测试: 温度范围 -50℃ 至 120℃ 之间快速循环测试
二. 特殊功能测试(非标准测试): 搭配测试机共同使用, 通过软件控制机台, 通常设定3个温度点, 高温(80℃或 120℃), 常温 25℃, 低温 -50℃; 结合测试机测参数, 测试时间可几秒钟, 几十分钟, 甚至几个小时.
三. 可靠性测试

上海伯东美国 inTEST ThermoStream 热流仪是为触摸屏芯片提供低温或高温环境来进行可靠性测试的专用仪器, 因为其能在短时间内迅速改变温度而被广泛应用于芯片测试中, 能够模拟观察芯片在恶劣环境下的性能是否能维持正常水平. 测试系统在工作过程中, 会依据设定的温度, 使系统通过特定的运算得出结果并去控制加热器来达到调节温度的目的.
 

inTEST 热流仪功能特点

型号: ATS-710E-M
温度范围: -80 至+225 °C
变温速率: -55至 +125°C 约 10 s; +125至 -55°C 约 10 s
温度显示精度: ±1℃ (通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)
自动升降温: 冷冻机特殊设计, 制冷剂不含氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 有效保护环境; 不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却
预防结霜: 干燥气流循环吹扫测试表面, 防止水汽凝结 (气体流量 0.5 至 3 scfm)
自动待机: 空闲或加热模式下, 自动减少能耗
加热除霜: 快速去除冷冻机内部积聚的水汽

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