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高低温冲击测试机 inTEST ThermoStream ATS-750E
上海伯东美国 inTEST ATS-750E 高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -85°C 至 +300°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能. 使用 inTEST 自主研发的 New ThermoStream® OCM 系统, 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 全新人机控制界面, 不在受制于因 Windows 软件而引发的系统过时问题！
inTEST ThermoStream ATS-750E 技术参数
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型号 |
温度范围 °C |
输出气流量 |
变温速率 |
温度 |
温度显示 |
温度 |
远程 |
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ATS-750 |
-85至+300 50Hz |
4 至18 scfm |
-55至 +125°C 约 10 s |
±1℃ |
±0.1℃ |
T型或 |
IEEE 488 |
温度显示精度：±1°C(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)
2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode (DUT 温度传感器：T型或K型热电偶)
远程接口: IEEE.488, RS232
加热盖提供局限性的温度测试环境，防止水气在DUT上凝结
手持热管也可以随意的移动到被测组件上；也可选购工作支架，省去手持的操作
LabView™驱动
CE相容 不含CFC
加热除霜快速去除制冷机内部积聚的水分
低温时热模式自动减少电力
待机时自动节省电力
提供 inTEST ATS-750E-M 机械手臂版本
ATS-750E-M 高低温测试机尺寸和重量:
尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm
净重 236 kg, 毛重 365 kg
与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：
1. 变温速率更快
2. 温控精度：±1℃
3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度
4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件
5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击; 传统高低温箱无法针对此类测试。
6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度
inTEST 高低温冲击热流仪应用
车载芯片及器件, 电源芯片, 功率器件, 通信芯片, 光纤收发器等温度冲击测试.
美国 inTEST ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. inTEST 热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 inTEST 中国总代理.
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