inTEST ATS-730E 高低温冲击热流仪
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inTEST ATS-730E  高低温冲击热流仪

芯片高低温冲击测试机 inTEST ThermoStream ATS-730E
上海伯东美国 inTEST ATS-730E 高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -85°C 至 +225°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能. 使用 inTEST 自主研发的 New ThermoStream® OCM 系统,  兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 全新人机控制界面, 不在受制于因 Windows 软件而引发的系统过时问题!
inTEST ATS-730E 是旧款高低温测试机 Temptronic TP04390 全新升级款!~ 
ATS-730
inTEST ThermoStream ATS-730E 技术参数

型号

温度范围 °C

输出气流量

变温速率

温度
精度

温度显示
分辨率

温度
传感器

远程
控制

ATS-730E

-85至+225 50Hz
-90至+225 60Hz

4 至18 scfm
1.8至 8.5l/s

-55至 +125°C 约 10 s
+125至 -55°C 约 10 s

±1℃

±0.1℃

T型或
K型
热电偶

IEEE 488
RS232

温度显示精度:±1°C(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)

2种检测模式 Air Mode DUT Mode (DUT 温度传感器:T型或K型热电偶)
远程接口: IEEE.488, RS232
加热盖提供局限性的温度测试环境,防止水气在DUT上凝结
手持热管也可以随意的移动到被测组件上;也可选购工作支架,省去手持的操作
LabView™驱动
CE相容 不含CFC
可提供机械臂或转台配置
机械臂(可选)可扩展高度达到检测高度

ATS-730E-M 高低温测试机尺寸和重量:
尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm
净重 236 kg, 毛重 365 kg
高低温测试机 ATS-710尺寸

与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势:
1. 变温速率更快
2. 温控精度:±1℃
3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度
4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件
5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击; 传统高低温箱无法针对此类测试。
6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度
 

inTEST 高低温冲击热流仪应用
车载芯片及器件, 电源芯片, 功率器件, 通信芯片, 光纤收发器等温度冲击测试.
inTEST 热流仪

美国 inTEST ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. inTEST 热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 inTEST 中国总代理.

inTEST 高低温冲击热流仪


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上海伯东: 叶小姐                                   台湾伯东: 王小姐
M: +86 1391-883-7267 ( 微信同号 )     T: +886-3-567-9508 ext 161
F: +86-21-5046-1490                            F: +886-3-567-0049
M: +86 1391-883-7267 ( 微信同号 )      M: +886-975-571-910
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