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inTEST ATS-750E 车载功率芯片高低温测试应用
上海伯东代理美国 inTEST ATS-750E 热流仪又获车载功率芯片高低温测试订单！为新能源汽车安全”保驾护航”！

车载功率芯片高低温冲击测试解决方案
上海伯东某客户从事集成电路芯片的封装, 测试等后工序加工及后工序技术研发等业务, 广泛应用于新能源汽车行业. 通过与用户沟通, 其部分功率模块产品尺寸较大且具有发热情况, 常规热流仪机型无法满足.

经上海伯东推荐选用美国 inTEST  ThermoStream ATS-750E, 出色的制冷能力和更高的测试温度: 温度范围 -85℃ 至 300℃, 美国 inTEST 热流仪的多元性为客户各项严格的测试要求提供强有力的支持, 为车载产品的高安全性, 高可靠性和高稳定性, 提供稳定和高效的解决方案.

inTEST  ATS-750E 热流仪提供 Air Mode 和 DUT Mode 两种测试方式. 在实际测试中, 如果是单颗待测器件, 则将热电偶探头放置于器件周边, 越靠近器件越好. 此时, 热流仪输出的气体温度将使此热电偶处的温度达到设定值, 可搭配各类测试机台在电共同进行芯片测试.

inTEST ATS-750E 温度范围:  -85°C 至 + 300°C (50 HZ) 变温速率:  -55至 +125°C 约 10 S 或更少               +125至 -55°C 约 10 S 或更少 输出气流量: 4 至 18 scfm 温度精度: ±1℃ 通过美国 NIST 校准 温度显示分辨率: ±0.1℃ 温度传感器: T或K型热电偶

随着新能源汽车的快速发展, 汽车功率模组成为当前开发的重点产品, 由于车载电子产品基本覆盖汽车的全生命周期, 因此需要符合汽车功能安全标准, 高低温冲击测试是其用于量产车上安全相关零部件的必要条件.

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