inTEST ATS-535 热流仪半导体芯片高低温测试

应用讯息

2024-09-05 | 阅读数 5

美国 inTEST ATS-535 热流仪半导体芯片高低温测试应用
上海伯东美国 inTEST ATS-535 集成空压机的高低温冲击热流仪, 高低温测试范围 -60 至 + 225°C, 为半导体功率器件 ( MOSFET, IGBT, SIC, GaN,车规级芯片…), 功率模块, 功率集成电路, 智能传感器等芯片研发提供高低温测试解决方案.
inTEST ATS-535 热流仪

inTEST ATS-535 高低温冲击热流仪优势
集成空压机: 特别适用于对环境噪音有严格要求的写字楼园区或研发环境, 省去重新评估空压系统及配管的时间及人力成本, 解决了因为环境受限无法提供压缩气体的芯片高低温测试难题.
移动式设计: 机动性更强
温度范围广: -60 至+ 225°C
整机静音节能设计: 整机噪音 < 60 dBA (内置空压机)
兼容市面上各品牌半导体测试机, 满足带电时的芯片各类测试.
远程接口: IEEE.488, RS232; LabViewTM 驱动

inTEST ATS-535 高低温冲击热流仪基本参数

高低温冲击范围	-60至+ 225°C
变温速率	-40至+ 125°C <12秒 +125至-40°C <40秒
系统气流输出*	5scfm（2.4l / s）固定流量
温度显示和分辨率	+/- 0.1°C
温度精度	1.0°C（根据 NIST 标准校准时）
DUT 温度控制	专有的控制算法可直接控制 DUT 温度
DUT 传感器端口	热电偶：T＆K型
电源	制冷机功率：220±10％VAC 50 / 60Hz 16amp 压缩机功率：220±10％VAC 50 / 60Hz 30amp
工作温度	+ 20°至+ 28°C; +23°C 标称值
湿度	0至60％; 额定值的45％
尺寸	194.7cm（76.7inch）X 61.7cm（24.3inch）X 108.6cm（42.8inch）
重量	249.5kg（550lbs）

inTEST ATS-535 应用场景

美国 inTEST ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. inTEST 热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 inTEST 中国总代理.

若您需要进一步了解 inTEST 热流仪详细信息或讨论, 请参考以下联络方式：
上海伯东: 叶小姐                                   台湾伯东: 王小姐
M: +86 1391-883-7267 ( 微信同号 )   T: +886-3-567-9508 ext 161
F: +86-21-5046-1490                            F: +886-3-567-0049
M: +86 1391-883-7267 ( 微信同号 )      M: +886-975-571-910
qq: 2821409400

欢迎来到 Hakuto 伯东国际通商

产品搜寻

应用讯息