应用讯息
inTEST ATS-710E 高压电力输电芯片,储能芯片的高低温测试
应用于工业, 商业, 住宅, 电力系统等多个领域的储能能量管理系统(Energy Management System, 简称 EMS), 高压输电芯片和储能芯片是承载电压的重要器件之一, 需要在 -50 至 175℃ 进行芯片高低温性能和失效分析, 上海伯东美国 inTEST ATS-710E 热流仪凭借准确,可靠和可重复的温度测试特性, 成功应用.
上海伯东 3kV 以下高压输电芯片和储能芯片高低温测试解决方案
inTEST ATS-710E 高低温冲击热流仪搭配是德 Keysight B1506A 机台, 测试时, 只需将待测芯片放置在 ATS-710E 测试罩内即可进行准确. 可靠和可重复的温度特性测试.
1. 冷热冲击测试(定温冲击测试, -40℃, -20℃…)
2. 快速冷热冲击测试(变温冲击测试, -40 至 150℃)
3. 高低温循环测试(-50 至 175℃, 单次测试 1000次以上)
使用 inTEST 高低温测试优势
1. 自动温度循环
2. 实时数据记录
3. 动态 (DUT) 温度控制
4. 本地和远程操作
5. 无霜测试环境
6. 节能模式
inTEST ThermoStream ATS-710E 技术参数
型号 |
温度范围 °C |
输出气流量 |
变温速率 |
温度 |
温度显示 |
温度 |
远程 |
ATS-710E |
-75至+225 50Hz |
4 至18 scfm |
-55至 +125°C 约 10 s |
±1℃ |
±0.1℃ |
T型或 |
IEEE 488 |
上海伯东美国 inTEST 热测产品搭配 Keysight 机台, 可提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -100℃ 至 350℃ 自动化热测试解决方案. Keysight 机台兼容 inTEST 软件, 操作简单.上海伯东美国 inTEST 始终努力探索多样的温度控制应用系统, 以支持温度测试行业的未来!
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